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　　全自動掃描電鏡最基本的功能仍然是放大鏡的功能，實現人眼以及光學顯微鏡所觀察不到的樣本的更多細節特征。它廣泛應用于材料科學研究、生物學、工業制造等領域。

 

　　全自動掃描電鏡主要分為兩種類型：

 

　　熱發射式掃描電鏡CSEM和場發射式掃描電鏡FESEM

 

　　熱發射式掃描電鏡（C-SEM）和場發射式掃描電鏡（FE-SEM）的主要區別是電子槍發射電子的方式不同。

 

　　熱發射電子槍使用的是鎢燈絲或者六硼化鑭燈絲，在燈絲加熱到足夠的溫度之后，電子便從燈絲發射；

 

　　場發射電子槍又分為熱場發射和冷場發射兩種，電子在電場力的作用下從燈絲發射，熱場燈絲也需要加熱，冷場燈絲不需加熱。熱場和冷場電鏡各有各自的優缺點，蔡司場發射電鏡使用的是熱場電子源。場發射式電鏡具有更高的分辨率。

 

　　二次電子圖像：反映樣品表面形貌

 

　　背散射電子圖像：反映樣品表面成分差異

 

　　能譜成分分布圖像：反映樣品表面成分組成與分布

 

　　由于掃描電子顯微鏡具有上述特點和功能，所以越來越受到科研人員的重視，用途日益廣泛。掃描電子顯微鏡已廣泛用于材料科學(金屬材料、非金屬材料、納米材料)、冶金、生物學、醫學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害(火災、失效分析)鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控制等。