DENS Wildfire TEM 原位加熱方案
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01 產(chǎn)品概況
Wildfire 原位加熱系統(tǒng)是為了探索材料在高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化的研究人員而設(shè)計的，其*的穩(wěn)定性超越了市場上大部分的同類產(chǎn)品，允許從室溫加熱到1300℃，并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制和樣品穩(wěn)定，確保了在高溫下觀察樣品動態(tài)時，TEM能保持最高的分辨率和分析性能。
同時，設(shè)計的芯片和4點探針法，可通過快速反饋實現(xiàn)溫度的局部測量，從而實現(xiàn)即時穩(wěn)定和精確的溫度控制。對于需要進行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶，我們也配備了α傾轉(zhuǎn)角達到70°的樣品桿，便于客戶進行多方位的研究。
02 產(chǎn)品特點
樣品制備簡單便捷 1. 可簡單快速地進行薄膜轉(zhuǎn)移 大面積范圍內(nèi)都保持平整，方便轉(zhuǎn)移樣品薄膜 2. 滴加的樣品顆粒都在視野中 樣品直接滴加到芯片上，可有效的降低毛細效應(yīng) 3. 優(yōu)質(zhì)的 FIB 樣品薄片 使用我們專有的 FIB 樣品臺可輕松制備樣品薄片，并直 接在芯片上進行最終減薄，而不會影響加熱性能。 |
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可靠的加熱控制 1. 準確的溫度控制 通過四探針法加熱可以在所有的溫度達到精準控制，溫 度穩(wěn)定性偏差 ≤ 0.005°C。 2. 全可視區(qū)域的超高溫度均勻性 溫度均勻性偏差小于 0.5%。 3. 支持客戶親自驗證其準確性和均勻性 客戶可通過使用 EELS 和 SAED 技術(shù)在透射電鏡 （TEM）中直接驗證溫度。
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高質(zhì)量結(jié)果 1. 高穩(wěn)定性 即使溫度高達 1000 °C，漂移率也小于 200 nm，并且可 以在最短的時間內(nèi)穩(wěn)定。 2. 不受影響的 STEM/TEM 性能 極小的 Z 方向位移（膨脹）有效保持了 TEM 的最佳分辨 率，而不需要頻繁移動樣品臺來達到同研發(fā)的目的。 3. 優(yōu)異的分析能力 微型加熱器極大地降低紅外輻射，可在高達 1000 °C 的 溫度下進行 EDS 分析。
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03. 案例分享
下圖是 Wildfire 原位樣品桿在 1000℃ 下采集到的 PdAu 納米顆粒的 mapping 圖譜，得到了高質(zhì)量的 EDS 信號，使得高溫下的 EDS 分析成為可能。當(dāng)前，許多科學(xué)家借助 Wildfire 原位樣品桿在高影響因子的期刊上發(fā)表了高質(zhì)量的文章，而利用原位透射電鏡了解材料的形態(tài)和成分變化，也在科研領(lǐng)域越來越受歡迎了。
04 應(yīng)用領(lǐng)域
05 原位實驗技術(shù)簡介
透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn)，科學(xué)家已經(jīng)可以實現(xiàn)在原子尺度上對材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進行表征成像。此外，TEM 的進步也帶動了 CCD 相機的發(fā)展，這樣，TEM 就同時具有優(yōu)異的空間分辨率和時間分辨率，那么時間和空間的結(jié)合，是否可以讓 TEM 動起來？
眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止狀態(tài)下的樣品，但這不足以反映材料在真實環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù)，設(shè)計出的納米芯片，據(jù)此可以向 TEM 中引入動態(tài)外界刺激條件，模擬樣品在真實環(huán)境下的狀態(tài)，打破壓力的限制，記錄樣品的動態(tài)變化過程，讓 TEM真正的實現(xiàn)動起來。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進的、納米尺度的原位顯微工具，其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前，已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。
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